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    錫林郭勒建筑儀器校準-CNAS認可機構

    2021/07/30 00:04:58 發布廠商:廣東省世通儀器檢測服務有限公司 >> 進入該公司展臺

     錫林郭勒建筑儀器校準-CNAS認可機構

    世通檢測長度實驗室主要負責長度計量工作,擁有豐富*工作經驗、良好職業技能、敬業愛崗的計量人員。長度室配備了國內*的測長機、大型工具顯微鏡、二次元、接觸式干涉儀、金屬線紋尺、光柵式水平儀器,直角尺儀、標準環規、標準球、標準圓柱角尺、標準多面棱體、電腦系統水平儀、百分表千分表儀、大尺寸量塊、量塊快速檢測儀、標準半球等各種儀器計量標準儀器百余種。

    可提供儀器校準、儀器校正、儀器計量及維修服務的儀器設備種類有:

    通用量具類:
    卡尺類、指示表類、千分尺類、角度規、水平儀、測厚儀、比較儀等。

    測繪儀器類:
    工程質量檢測尺、水準尺、經緯儀、建筑工程標準器等。

    精測量儀類:
    激光孔徑儀、光學計、投影儀、測長儀、顯微鏡、影像測量儀、二次元、接觸式干涉儀、圓度儀、坐標測量機(CMM、三次元)、數控機床、加工中心的檢測等。

    量塊量規:
    四等及以下量塊、步距規、標準針規、標準環規、光滑極限量規、半徑樣板、螺紋樣板等。

    線紋:
    玻璃線紋尺、各種帶標尺放大鏡、鋼直尺、鋼卷尺、塑膠皮尺等。

    平面度:
    水平儀、平板、平尺、平晶等。

    粗糙度:
    粗糙度比較樣塊、粗糙度參數測試等。

    螺紋類:
    各類公制(M)、美標(UN)、日標(J1S )、管螺紋(G)等螺紋規的檢測。

    玩具輕工檢測類:
    小物件測試圓筒、搖鈴測試儀、曲繞測試儀、利邊測試儀、尖點測試器、奶嘴測試器、拉力鉗、壓力頭、測試手指等各種測試器。鞋業、紡織、自行車、模具、機加工琴部件等空間高精度尺寸的測量等。

    錫林郭勒建筑儀器校準-CNAS認可機構

    概述

    特點:符合阿貝原理、精度高、使用方便。
    阿貝原理:被測量線應與測量線相重合或在其延長線上。
    外徑千分尺的分度值一般為0.01mm和0.001mm,移動量為25mm。
    有測力裝置,保持恒定的測量力。
    分類和結構


    數顯外徑千分尺

    工作原理

    運用螺旋副傳動原理,借助測微螺桿與螺母配合,將螺桿的回轉運動變為直線運動,從固定套管和微分筒上讀出長度尺寸。

    讀數

    讀數原理:微分筒讀數以固定套管的縱刻線為基準線,縱刻線上下有50個分度,每個分度為0.5mm。微分筒圓周刻有50個等分,測微螺桿的螺距為0.5mm, 微分筒旋轉一周。微分螺桿移動0.5mm,微分筒旋轉一個分度時(1/50轉)測微螺桿移動0.01mm。


    校準和技術要求

    按現行有效版本JJG21-2008
    主要校準設備
    3、4等量塊(量塊)

    平面平晶、平行平晶、刀口尺

    測力儀
    1、外觀和各部分相互作用:目力觀察和手動試驗

    2、測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動:手感檢查

    必要時使用杠桿千分尺檢查( 要求≤0.01mm)

     

    3、測力:用分度值不大于0.2N的測力計

    測力應為(5~10)N

    4、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離:

    用0.4mm的塞尺置于固定套管上比較測量( ≤ 0.4mm )

    5、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對距離:

    當測量下限調整正確后,讀取微分筒的零刻線與固定套管縱 向刻線右邊緣的偏移量

    要求:壓線≤0.05mm 離線≤0.1mm

    6、測量面的平面度:用平面平晶以技術光波干涉法

    對于后續校準的可用刀口尺以光隙法

    要求: 外徑千分尺 ≤0.6um

    壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um

    數顯外徑千分尺≤0.3um

    7、數顯外徑千分尺的示值重復性:

    在相同條件下重復測量5次分別讀數,以*與*小讀數差確定

    要求: ≤1um

    8、兩測量面的平行度:測量上限至100mm用平行平晶檢查,或可用量塊檢查。

    采用量塊時,其4塊尺寸差為1/4螺距,每個量塊以其同一部位放入下圖示的測量面間的4個位置上分別讀數,以四組差值中*值來確定。

    錫林郭勒建筑儀器校準-CNAS認可機構

    千分尺示值的*允許誤差及兩測量面的平行度

    9、示值誤差:

    外徑(壁厚、板厚)用5等量塊,數顯用4等量塊校準,或用千分尺量塊。

    在測量范圍內均勻分布5點放入量塊直接測量。

    (A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00)

    A—測量下限值

    示值誤差要求見上表

    10、數顯千分尺的細分誤差:在任意位置上,沿測量方向轉動微分筒,每間隔0.04mm檢查一次,共計12次,分別讀出各受檢點數顯值與微分筒讀數值之差,以其*差值確定。

    要求≤±2um

    11、校對用量桿(尺寸及變動量):

    外徑:在光學計或測長機上用4等量塊以比較法

    數顯:在光學計或測長機上用3等量塊以比較法

    變動量:如圖示5點中*與*小尺寸之差

    千分尺校對用量桿的尺寸偏差和變動量

    正確使用和注意事項

    測量前應將測量面及被測件擦試干凈,等溫2H(20℃±5)
    千分尺的零位調整
    千分尺兩測量面與量塊接觸時,要使用測力裝置,不要轉動微分筒,以測力裝置的棘輪斷續響3聲讀數為準czy4583

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